>> 将制程流程结合环境分析数据与产品不良的AMC处理方法的概念介绍

本期主题: 将制程流程结合环境分析数据与产品不良的AMC处理方法的概念介绍

AMC控制的目的,首先在于解决良率的不良问题。

而环境分析则是用以辅助断定 AMC(Airborne Molecular Contamination)处理对象及方法。

就一个完整的解析/判断而言,上述做法是否足够了呢?

(一般习惯的做法,大致上也是如此)

本期我们将介绍另一种方法,我们将以制程流程为首,结合环境分析的检测数据及产品的不良现象,以协助分析问题,并提供给业界另一种参考方式。

>> 序言

Item序言

AMC问题的出现,其实是发生在产品上,而且脱离不了制程本身。事实上,往往与制程的前后关联性有关。

本期将介绍我们过去所处理过的案例,我们不是把重点放在不良本身,而是拟介绍一种环境分析数据的方法。

由于环境分析往往包含有机与无机,特别是有机,其物种繁多,如果没有一个好的方式,可能很难判定可能的物种与原因。

因此,我们将介绍一种方法,结合数据库比对,并结合制程本身,提供一种比较容易了解的方式,以供业界参考。

 

>> 问题

Item 问题

探讨这个AMC问题的原因是蚀刻制程出现了不良状况,但往前追溯,可能是由黄光及成膜引起的,而且,从众多不良数据统计分析来看,似乎环境因素占绝大多数,因此,有必要针对环境执行全面性调查。

>> 处理方法

Item 处理方法

1. 与客户制造/良率分析部门开会,澄清问题及位置。

2. 决定空气采样位置

3. 执行空气采样与分析

4. 数据整理与分析

5. 改善方案提议

其实,上述流程实在是再普遍不过了。相信一般做法也大致如此,我们想再多做着墨之处的是数据整理分析。

>> 数据整理一:从可能原因推断物种的特性

Item 数据整理一:从可能原因推断物种的特性

做过环境分析的相信都有相同的感受,特别是有机物,东西一大堆,哪个有影响,哪个又无关痛痒?光看了就眼花,因此,有必要提供一个筛选过滤的方法。

请参考下表,我们结合制程流程及原因推断,并根据不同制程发生的现象,判断该物种的特性,有了该特性,就可以帮助过滤物种,协助判断是否具有威胁。

从制程流程分析污染物的特性 

数据整理一:从可能原因推断物种的特性

>> 数据整理分析二:数据库的应用

Item 数据整理分析二:数据库的应用

光有前面的分析,其实还是令人眼花撩乱的,因为东西太多。

因此,利用计算机进行对比,特别是过去的数据库,也就非常有意义。

把过去相同制程的环境检测结果,以数据库的方式整理,并利用计算机对比,将可省下大量时间,该初步过滤,再搭配前面表中原因及化学物的特性判定,将有助于初步筛选出可能物种。

>> 数据整理分析三:不同Defect对比

Item 数据整理分析三:不同Defect对比

由于该问题是由于污染物沉积引起的,因此,应该不仅仅只是沉积在该制程而已,也应该发生在其它制程中,并可能形成其它Defect问题。

我们利用下表,对应过滤后的化学物,重新结合制程及可能Defect种类,检讨该化学物的可能性,此时,从其它不良Defect的发生来做综合判断,将成为另外一个对比依据。

从制程流程检讨无尘室内可能的污染物

  数据整理分析三:不同Defect对比

>> 数据整理与分析四:环境浓度与不良区域对比

Item 数据整理与分析四:环境浓度与不良区域对比

整个污染的过程以储放时为主,因此,我们必须再针对不同储放环境及发生不良区域的浓度进行对比,以产生另外一种观点,提供不同角度的确认。

>> 结论

Item 结论

透过上述的数据分析,我们可能从30~40种物种中,筛选出几个可能的污染物。

站在更明确确认的要求上,其实,若能执行相同薄膜材的基板沉积实验,将会更有助于环境分析的对比。

但无论如何,透过该方法,我们提供了另外一种 AMC问题解析的方向,希望能够给予更多启发与想象空间,这是本期内容的目的。